精准检测COG/FOG粒子，尼康LV150N+DIC技术助力液晶屏行业
作者：北京必一运动仪器有限公司
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发表时间：2025-05-16 09:48:14
在液晶显示屏（LCD）的生产过程中，导电粒子的检测是确保产品质量的关键环节。必一运动仪器携手尼康，通过金相显微镜LV150N结合NIS-ELEMENT软件与DIC（微分干涉）技术，为COG（Chip On Glass）粒子和FOG（Flex On Glass）粒子的检测提供了***、精准的解决方案。
在液晶屏行业中，导电粒子需***连接IC芯片与LCD基板的电极，确保仅在Z轴方向导通，同时避免相邻电极短路。然而，传统金相显微镜的明场观察仅能显示导电基板表面的树脂黏着剂，难以清晰观测电路下的导电粒子。这一难题对检测技术提出了更高要求。
▲尼康金相显微镜LV150N
测试结果：COG/FOG粒子的“高清呈现”
通过尼康LV150N+DIC技术，可清晰观测到COG粒子和FOG粒子在导电基板上的分布与形态（如图例所示）。测试报告显示，该技术能准确统计导电粒子数量，分析其分布规律，为生产过程提供可靠数据支持。
▲COG粒子检测
▲FOG粒子检测
必一运动仪器携手尼康，以LV150N金相显微镜为核心，融合NIS-ELEMENT软件的智能分析与DIC技术的立体成像，为液晶屏导电粒子检测树立了新标杆。这一解决方案不仅实现了对COG/FOG粒子的精准捕捉与缺陷识别，更通过***的数据分析，为生产流程优化与质量控制提供了有力支撑。选择必一运动仪器，即是选择专业、精准与***。立即联系必一运动 ，共同开启液晶屏检测的新篇章！
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